LS-VCS-NF激光近场测量系统 激光近场测量系统专门针对VCSEL近场测试研发,在特定显微区域实现对VCSEL芯片发光效果、能量分布、光斑尺寸,以及稳定性进行测试。可测量发光点数统计、坏点/异常点标记,各发光点光功率一致性统计、光束束腰直径、近场发散角、光束质量因子M²。
- 01
更新日期
2024-12-28 - 02
厂商性质
经销商 - 03
浏览量
384
我们相信好的产品是信誉的保证!
咨询热线:
15220080939致力于成为更好的解决方案供应商!
更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
384更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
615更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
411更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
333更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
465更新日期
2024-12-28厂商性质
经销商浏览量
445更新日期
2024-12-27厂商性质
经销商浏览量
497更新日期
2024-12-27厂商性质
经销商浏览量
627扫码加微信